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XJ3110可(ke)對單運放(fang)、雙運放(fang)、四運放(fang)的8種主(zhu)要參(can)數(shu)進行手動或自動測量，所有(you)參(can)數(shu)均以數(shu)字顯示，Z大(da)輸(shu)出(chu)幅度可(ke)用波形顯示器監視。
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XJ4630型示波器頻帶寬度為(wei)1MHz，Z高靈敏度為(wei)2mV/div，Z慢掃描時間為(wei)20s/div，全程Z慢掃描時間為(wei)500S，采(cai)用內刻度長余輝CRT。
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本(ben)儀(yi)器是用(yong)于測量各種半導體(ti)管(guan)特(te)性(xing)曲線和(he)靜(jing)態(tai)參數的測量儀(yi)器，是新一代(dai)便攜式圖示儀(yi)。整機采用(yong)新穎電路(lu)設計技術，具備外(wai)形(xing)輕(qing)巧，操作(zuo)簡便，性(xing)能穩定(ding)可靠(kao)，性(xing)價比高的特(te)點(dian)，能滿足大部(bu)分半導體(ti)器件的測試要求。適合工廠生產線、大專(zhuan)院校(xiao)教學實驗和(he)電子設備維(wei)修等領域使用(yong)。
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XJ4822 CRT讀(du)出圖示儀，外(wai)觀新穎(ying)，技術先進(jin)，操作(zuo)方便，能對(dui)各(ge)類二(er)(er)極(ji)管、三極(ji)管、場(chang)效應管等(deng)靜態參數測試(shi)。光(guang)標(biao)測量數字讀(du)出給用戶帶來(lai)方便，二(er)(er)簇(cu)曲(qu)線顯示對(dui)器(qi)件各(ge)類參數配對(dui)尤為方便。測試(shi)大功率器(qi)件時(shi)，可采用單次方式。配3KV測試(shi)臺后Vc可達(da)3KV。
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QT2型半導體管(guan)特性圖示儀(yi) 可(ke)測(ce)(ce)量(liang)二極(ji)管(guan)、三極(ji)管(guan)的(de)低頻直流(liu)參數，Z大集(ji)電(dian)(dian)極(ji)電(dian)(dian)流(liu)超過(guo)50A，能滿足500VA以下(xia)器件的(de)測(ce)(ce)試。本機附有高壓測(ce)(ce)裝置，可(ke)對5KV以下(xia)的(de)二極(ji)管(guan)、三極(ji)管(guan)進行擊穿電(dian)(dian)壓及反向漏電(dian)(dian)腦測(ce)(ce)試。其測(ce)(ce)試電(dian)(dian)流(liu)Z高靈敏度可(ke)達0.5μA/div。
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上(shang)海(hai)新(xin)建XJ4810A型半導體管(guan)特(te)(te)性圖示(shi)儀(yi) 本儀(yi)器(qi)具(ju)有二(er)簇曲線顯(xian)示(shi)，雙向集電(dian)極掃描電(dian)路，可(ke)(ke)以對被測(ce)(ce)半導體器(qi)件的(de)特(te)(te)司(si)長進(jin)行(xing)對比分析，便于對管(guan)或(huo)配件配對。本儀(yi)器(qi)IR測(ce)(ce)量達(da)200nA/div，配備擴展(zhan)裝置后，VC可(ke)(ke)達(da)3KV；可(ke)(ke)測(ce)(ce)試CMOS及TTL門(men)電(dian)路傳輸特(te)(te)性；可(ke)(ke)對場效應(ying)管(guan)進(jin)行(xing)配對或(huo)對管(guan)測(ce)(ce)試；可(ke)(ke)測(ce)(ce)試三端穩壓管(guan)特(te)(te)性。
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上(shang)海新建XJ4828,XJ4829型數(shu)(shu)字(zi)存(cun)(cun)儲模(mo)(mo)擬器(qi)件特性圖示(shi)儀 采用彩色(se)LCD顯(xian)示(shi) 具有數(shu)(shu)字(zi)存(cun)(cun)儲功(gong)能(neng) 能(neng)滿足對(dui)(dui)半(ban)導體管特性、三端(duan)穩壓集成(cheng)電路進行(xing)圖示(shi)、參數(shu)(shu)測量 能(neng)對(dui)(dui)模(mo)(mo)擬器(qi)件進行(xing)分析(xi)、參數(shu)(shu)挑(tiao)選(xuan)、配(pei)對(dui)(dui)等
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上海新建XJ4830型智能半導體管特性圖示(shi)(shi)儀 測(ce)試開關智能控(kong)制，各種控(kong)制開關測(ce)試條件可預置、測(ce)試結果可存(cun)盤、可打印輸(shu)出，并可適用PC機(ji)顯示(shi)(shi)被測(ce)器(qi)件特性曲線。
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新建XJ4832數字存儲100A大(da)功(gong)率半導體管特性圖示儀(yi) 本(ben)(ben)機是新一代數字化測量儀(yi)器。采用(yong)新穎(ying)電路設計技術，通過(guo)微處理器集(ji)中(zhong)控(kong)制(zhi)整(zheng)個系統(tong)的(de)數據(ju)采集(ji)、顯示、打(da)(da)印(yin)、存儲，處理人(ren)機交互信(xin)息等。具有(you)高集(ji)成度、高可(ke)靠性。以屏幕顯示測試(shi)檔級及用(yong)光標(biao)測試(shi)被測器件的(de)各種(zhong)直流參數，并可(ke)將測試(shi)結果存儲、打(da)(da)印(yin)、隨時調用(yong)。本(ben)(ben)機具有(you)友好的(de)人(ren)機界面(mian)，有(you)中(zhong)、英文兩(liang)種(zhong)語言供選擇。
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新建XJ4834/4833型400A大(da)(da)功率數字(zi)存(cun)儲半導(dao)體管圖(tu)示儀 具有Z大(da)(da)400A/200A的集電極電流和(he)1000V的集電極掃描電壓輸出。 采用(yong)大(da)(da)電流脈(mo)沖(chong)、采樣、存(cun)儲等技術，滿(man)足對(dui)大(da)(da)功率半導(dao)體管特性(xing)進行(xing)圖(tu)示、參數測量(liang)。能對(dui)大(da)(da)功率 半導(dao)體管特性(xing)進行(xing)分析、參數挑選(xuan)、配對(dui)等，并(bing)具有計算機接口、可(ke)打印(yin)輸出, 并(bing)可(ke)將測試結果存(cun)儲、 調用(yong)、打印(yin)。
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