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本儀(yi)器(qi)是用于(yu)測量(liang)各種半導(dao)體(ti)管特性曲線和(he)靜態參數(shu)的測量(liang)儀(yi)器(qi)，是新一代便(bian)攜式圖(tu)示(shi)儀(yi)。整機采(cai)用新穎電路設計技術(shu)，具備外形輕(qing)巧，操作簡便(bian)，性能穩定可靠，性價比(bi)高的特點，能滿足大部(bu)分半導(dao)體(ti)器(qi)件的測試(shi)要求(qiu)。適合工廠生產線、大專(zhuan)院校教學(xue)實(shi)驗和(he)電子設備維修等領域使(shi)用。
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XJ4822 CRT讀出圖(tu)示儀(yi)，外觀新(xin)穎，技術先(xian)進，操作(zuo)方便，能(neng)對各類二極管(guan)(guan)、三極管(guan)(guan)、場效應管(guan)(guan)等靜(jing)態(tai)參數(shu)測(ce)(ce)試。光標測(ce)(ce)量數(shu)字讀出給用戶(hu)帶來方便，二簇曲線(xian)顯(xian)示對器件(jian)各類參數(shu)配對尤為方便。測(ce)(ce)試大(da)功率器件(jian)時，可采(cai)用單(dan)次方式。配3KV測(ce)(ce)試臺后Vc可達3KV。
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QT2型半導體管(guan)特性圖(tu)示儀 可(ke)(ke)測量二極(ji)管(guan)、三極(ji)管(guan)的低頻直流參數，Z大集電(dian)極(ji)電(dian)流超過(guo)50A，能滿足500VA以(yi)下器件(jian)的測試(shi)。本機附(fu)有高壓測裝置，可(ke)(ke)對5KV以(yi)下的二極(ji)管(guan)、三極(ji)管(guan)進行擊(ji)穿電(dian)壓及反(fan)向漏電(dian)腦測試(shi)。其測試(shi)電(dian)流Z高靈敏度(du)可(ke)(ke)達0.5μA/div。
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上(shang)海新建XJ4810A型(xing)半導(dao)體管特性圖示儀(yi) 本儀(yi)器具有二簇(cu)曲線顯示，雙向集電(dian)極掃描電(dian)路，可以對(dui)被測(ce)半導(dao)體器件的特司(si)長進(jin)行(xing)對(dui)比分析，便于對(dui)管或(huo)(huo)配(pei)件配(pei)對(dui)。本儀(yi)器IR測(ce)量達200nA/div，配(pei)備擴(kuo)展裝(zhuang)置后，VC可達3KV；可測(ce)試(shi)(shi)(shi)CMOS及TTL門電(dian)路傳(chuan)輸特性；可對(dui)場效應管進(jin)行(xing)配(pei)對(dui)或(huo)(huo)對(dui)管測(ce)試(shi)(shi)(shi)；可測(ce)試(shi)(shi)(shi)三端穩(wen)壓管特性。
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上海新(xin)建(jian)XJ4828,XJ4829型(xing)數字(zi)(zi)存儲模擬器(qi)件特(te)性圖(tu)示儀 采用彩色(se)LCD顯(xian)示 具有數字(zi)(zi)存儲功能(neng) 能(neng)滿足對半導體(ti)管特(te)性、三端(duan)穩壓集成電路進行圖(tu)示、參數測(ce)量(liang) 能(neng)對模擬器(qi)件進行分析(xi)、參數挑選、配對等(deng)
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上海新建XJ4830型(xing)智能半導體管特(te)性圖示(shi)儀(yi) 測試開(kai)(kai)關智能控(kong)制(zhi)，各種控(kong)制(zhi)開(kai)(kai)關測試條件可(ke)預置、測試結果可(ke)存(cun)盤(pan)、可(ke)打(da)印輸(shu)出(chu)，并可(ke)適用PC機顯示(shi)被(bei)測器件特(te)性曲線。
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新建XJ4832數(shu)字存儲(chu)100A大功率半導(dao)體管特性圖示(shi)(shi)儀 本機(ji)是(shi)新一代數(shu)字化測量儀器。采(cai)用新穎(ying)電路設計(ji)技術，通(tong)過微(wei)處理(li)器集中控制(zhi)整個系統的數(shu)據采(cai)集、顯示(shi)(shi)、打印(yin)、存儲(chu)，處理(li)人機(ji)交互信息等。具有(you)高集成度、高可靠性。以屏幕(mu)顯示(shi)(shi)測試(shi)檔級及(ji)用光標測試(shi)被測器件的各種直流(liu)參數(shu)，并可將測試(shi)結果存儲(chu)、打印(yin)、隨(sui)時調用。本機(ji)具有(you)友好(hao)的人機(ji)界面，有(you)中、英文兩種語(yu)言供選擇。
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新建XJ4834/4833型(xing)400A大功(gong)率數(shu)字存儲半(ban)導體管圖(tu)示儀 具(ju)有Z大400A/200A的(de)集電(dian)極(ji)電(dian)流和1000V的(de)集電(dian)極(ji)掃描電(dian)壓輸(shu)出。 采用大電(dian)流脈沖、采樣、存儲等(deng)技術，滿足對大功(gong)率半(ban)導體管特(te)性進行圖(tu)示、參數(shu)測(ce)量。能對大功(gong)率 半(ban)導體管特(te)性進行分(fen)析、參數(shu)挑選、配(pei)對等(deng)，并(bing)具(ju)有計算機接口、可打印輸(shu)出, 并(bing)可將測(ce)試結果存儲、 調(diao)用、打印。
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金(jin)科JK9612場(chang)效應(ying)管(guan)分選測(ce)試儀 主要用于中小電子(zi)產品企業(ye)對(dui)場(chang)效應(ying)管(guan)或IGBT的批量測(ce)量，篩選。
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金(jin)科JK9610A場效應管(guan)測(ce)試儀(yi) 是一(yi)種(zhong)新穎的全數字(zi)顯示式功(gong)率場效應管(guan)參數測(ce)試裝(zhuang)置(zhi)，可用于標(biao)稱(cheng) 電流約(yue)在(zai)(zai)2-85A，功(gong)率在(zai)(zai)300W以內的N溝(gou)(gou)導(dao)和P溝(gou)(gou)導(dao)功(gong)率場效應管(guan)主要(yao)參數的測(ce)試。
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